بررسی اثر کامپوزیت فلو (لاینر) و نوع باندینگ بر ریزنشت کامپوزیت z۲۵۰در حفرات کلاس ii (در محیط آزمایشگاهی)

زمینه و هدف: ریزنشت ترمیم یکی از مهم ترین عوامل در ایجاد پوسیدگی ثانویه و شکست ترمیم به حساب می آید مطالعه ی حاضر با هدف بررسی اثرلاینر (کامپوزیت فلو) و نوع باندینگ بر میزان ریزنشت کامپوزیت z250 درحفرات کلاس ii انجام شد. روش بررسی: در سطح مزیال و دیستال 80 دندان پره مولره انسانی حفرات کلاس ii استاندارد تهیه شد. حفرات بر اساس لاینر و موقعیت مارجین جینجیوال و عامل باندینگ به 8 گروه تقسیم شدند. در گروه i مارجین (1mm sub cej)، باندینگ (single bond,3m) و کامپوزیت (filtek z250,3m) . گروه ii: کامپوزیت فلو (filtek flow,3m) به عنوان لاینر و بقیه حفره مشابه گروه i. گروه iii: مارجین (1mm supra cej) بقیه مانند گروه i، گروه iv: مارجین (1mm supra cej)، بقیه حفره مانند گروه ii. گروه v: باندینگ (adper easy bond,self-etch,3m) و بقیه مانند گروه i. گروه vi: باندینگ (self-etch) و بقیه مانند گروه ii. گروه vii: باندینگ (self-etch) و بقیه مانند گروه iii. گروه viii: باندینگ (self-etch) و بقیه مانند گروه iv. نمونه ها 3000 دور ترموسایکل شدند و در محلول متیلن بلو 10 درصد قرار گرفتند. سپس با دیسک الماسی برش داده شدند و زیر میکروسکوپ با بزرگنمایی x40 مورد بررسی قرار گرفتند. آزمون واریانس یک طرفه و توکی جهت آنالیز داده ها استفاده شد و 05/0p< به عنوان سطح معنی داری در نظر گرفته شد. یافته ها: در مارجین sub-cej گروه i بیشترین و گروه vi کمترین میزان ریزنشت را نشان داد (05/0p>) در مارجین supra-cej گروه viii کمترین و گروهiii بیشترین میزان ریزنشت داشتند (05/0p>). در مقایسه ی بین گروهی اختلاف بین گروه i با viii معنی دار بود (05/0p<). نتیجه گیری: ترکیب سیستم self-etch همراه با کامپوزیت فلو به عنوان لاینرو کامپوزیت قابل پکz250 ریزنشت را کاهش می دهد.